纳米级显微镜和计量解决方案的创新引领者

提高您的研究效率

Park FX40

Accurion i4

为您的科学研究提供具有稳定性和准确性的解决方案

Park NX20

为科研和失效分析提供
精准大样品AFM解决方案

Park NX-Mask

修复具挑战性的光掩模缺陷

Park NX-Wafer

业界引领的用于产线计量方案的自动化AFM

纳米技术的新兴趋势

应用

阅读Park原子力显微镜的AFM技术文章，了解近期行业和技术进展

在线纳米学院

AFM专家为您提供在线课程。还有AFM专家的网络研讨会、现场演示和教育视频

奖学金

Park原子力显微镜旨在通过鼓励年轻研究人员分享和讨论他们的研究，支持纳米科学领域的下一代开拓者

True Sample Topography

Accurate Sample Topography Measured by Low Noise Z Detector

True Sample Topography™，让压电蠕变无影踪

我们的原子力显微镜配有高效的低噪声Z轴探测器，宽噪音带宽仅有0.02 nm。这能够带来超精准样品形貌，不受沿过冲影响，且无需校准。这仅仅是Park原子力显微镜为您节省时间和带来良好数据的方式之一。

形貌使用了低噪声Z轴探测器信号
宽带宽下0.02 nm的低Z轴探测器噪声

前沿和后沿无过冲
只需出厂前进行一次校准

Park NX AFM

Conventional AFM

Park新消息

Sang-il Park, CEO of Park Systems, Honored with the Esteemed Hanyang Paiknam Prize

Press-Release | 2023年10月17日

Park Systems Celebrates Groundbreaking Expansion to Gwacheon and Yongin

Press-Release | 2023年9月19日

Park Systems Recognized in Forbes Asia's Best Under A Billion 2023

Press-Release | 2023年9月18日

浏览Park产品

一种新型原子力显微镜

修复具有挑战性的光掩模缺陷

薄膜表征成像椭偏纳米薄膜

3种尺寸的紧凑型台式减震台

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