Park AFM Imaging Modes
真正非接触™模式
在保证样品完整性的同时，持续的提供高分辨率与高精度的数据。
真正非接触模式可以保持探针锐利以及样品表面不受到破坏，从而提供更为精准的结果。在真正非接触模式下，压电调制器按照接近于悬臂共振频率的固定频率，使悬臂产生小幅度振动。在针尖接近样品的过程中，针尖与样品之间的范德瓦耳斯力使悬臂振动的振幅与相位也随之一同变化。Park原子力显微镜的Z轴伺服回应系统监测这一变化，将针尖与表面间的距离维持在纳米水平，使样品表面或探针尖端不受损伤。.
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Nano-arrayed particles
Scan size: 1μm, 250nm, 120nm
Using Probe: AR5T-NCHR
Imaged on a Park NX10 using Non-contact Mode.
接触模式
表面成像的简便扫描方法
接触模式是获取样品形貌的较为简便的方式。Z轴扫描仪保证悬臂在样品表面上的挠度始终不变，形貌信号也据其位置生成。.
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[初始形貌] / [30分钟后的形貌变化]
PMG Crystal in glyphosate solution
Scan size: 2μm
Using Probe: Biolever mini
Imaged on a Park NX10 using contact mode in liquid.
轻敲模式
这是非接触模式的替代技术，在此模式中悬臂再次在表面上方摆动，但是振幅较高。摆动越大,越足以将偏移信号发送给控制回路，从而可更容易控制表面形貌反馈。这可以产生适度的原子力显微镜结果，但是会更快地损害探针的锐度，加速了影像像素的降低。
[形貌] / [相位]
晶体小面相位图像，同时收集
Crystal Facetts
Scan size: 10 µm
Using Probe: AC160TS
Imaged on a Park NX10 using Tapping mode.
