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30, Dec 22'
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原子力显微镜以其较强的原子和纳米尺度上的分析加工能力，在纳米科学技术的发展中占据及其重要的位置，其测量结果会根据样品制备方式，AFM机台选择或者测量方法而发生巨大的变化。Park希望通过这本AFM用户手册可以帮助研究人员更好地制备样品并获得助力大家科学研究的高清AFM成果。本手册根据Park原子力显微镜工程师们和研究员们的AFM 样品测量...
7, Sep 22'
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原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的最主要的方法之一，基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学，磁学，热学，电化学，力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点，包括粉末，纤维，电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础，尤其是AFM样品的形貌测试，不同类型...
25, Aug 22'
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开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术，被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果，或者，校准后，测量样品的功函数。KPFM 广泛用于研究和工业中，用于对各种应用（如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备）的功函数变化进行成像。 在本次网络研讨会中，我们将展示开尔文...
28, Jul 22'
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随着半导体芯片技术进展，元器件特征尺寸横向微缩的同时，对于元器件纵向维度上的微缩、堆叠与平坦化控制也随之日趋重要，相关线上制程监控也越来越重要。传统量测仪器面对于纵向维度上制程监控需求正面临着挑战，然而原子力显微镜因其优异的纵向解析度与灵敏度，近年来也获得越来越多的关注。本文介绍原子力显微镜于现今半导体芯片制程技术的量测应用，以及其未来展...
9, Jun 22'
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原子力显微镜的探针关乎我们的研究成果。探针的性状好坏决定了原子力显微镜成像结果的优劣。本次演讲会着重在经验的分享，希望能帮助大家在未来参数的设定上，以及探针的选用上，都能做出更精准的判断。本次讲座会依次从原子力显微镜的基本设定，探针，探针形状问题，力曲线，典型图像瑕疵分析，AFM图像分析等方面为大家进行分享。
// Marketo la...
2, Jun 22'
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软电子学正在向医疗保健监测和医疗植入方向发展。然而，材料的高导电性和低杨氏模量之间难以达到平衡、生物组织与柔性智能器件之间较差的粘合强度和显著的机械失配等因素会导致器件在界面上的功能失效。在此，我们报告了一种具有低模量（56.1-401.9 kPa）、高拉伸性（700%）、高界面附着力（搭接剪切强度>1.2 MPa）和高导电性（1-...
26, May 22'
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神经形态和类脑计算具有并行处理和存储大量数据的能力且功耗低等优点，正在引起学术界和工业界的巨大关注。在本次讲座中将介绍如何利用导电原子力显微镜（CAFM）结合半导体参数分析仪（SPA）在纳米尺寸（~50 nm2）原位观测忆阻型电子突触的动态响应，以及多种可塑性行为的模拟，包括低功耗双脉冲易化、兴奋性突触后电流、长时程增强/抑制等。本工作为...
28, Apr 22'
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Park低杂讯原子力显微镜与长距离滑动平台（Long range sliding stage）技术相结合，创造出原子等级的长距离表面轮廓分析仪器（Atomic Force Profiler, AFP）. 最佳轮廓的精度和重复性，使其成为半导体产业先进制造中不可或缺的分析仪器。本次讲座介绍了AFM以及非接触式扫描的基本原理，比较不同表面轮廓...
7, Apr 22'
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C-AFM即导电原子力显微镜在测量纳米尺度样品形貌同时可获得样品的电学特性，例如半导体器件，复合材料，纳米纤维等等。利用原子力的高精度定位，可针对感兴趣区域进行I-V特性研究。该讲座还介绍了C-AFM的不同类型样品的制备和探针种类的选择与推荐。C-AFM是基于原子力contact 模式，在其样品形貌反馈基础上，增加了电流放大器等模块形成样...
2, Mar 22'
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The new Park Systems FX40 AFM improves the application of PinPoint and all Park advanced modes by combining it with automatic tip exchange and alignment. In this webinar,...