纳米红外光谱分析系统在化学分析及材料成像的应用光诱导力显微镜 (PiFM) 能提供高分辨率红外光谱,其与传统的FTIR(傅里叶变换红外光谱)保持着密切的相关性,结合AFM 平台,其PiFM 光谱 可达10 nm 空间分辨率下的化学鉴定。此外,Park PiFM 亦可提供不同深度的光谱信息,提供对样品成分的更多资讯。
有了AFM 的C-AFM影像可以帮助一些半导体业做一些快速的故障分析与学术上的研究,在降低成本上可说是好处多多。在感应电荷方面(EFM;KPFM), 也同样可以以低成本即可得到材料表面电荷跟相对于探针的功函数,也是对于研究开发很有帮助的利器。近来在半导体上电性量测量尤其重要,也可帮助解决与改善制程与良率上的问题。
原子力显微镜AFM是在纳米尺度上表征样品形貌的主要的方法之一,基于样品形貌同时还可选择不同模块研究其电学,磁学,热学,电化学,力学等特性。然而样品制备的合适与否决定了样品形貌及其他特性的准确性。本讲座主要介绍不同类型的样品制备过程及注意点,包括粉末,纤维,电学模块样品等等。样品的制备是所有实验的基础,尤其是AFM样品的形貌测试,不同类型,尺寸及状态的样品的制备好坏决定测试结果是否能真实表征样品的特征结构和尺寸,排除由于样品制备不当导致的样品扭曲,虚像或图像失真。对于同一类型样品,不同制备样品的方式也比较了其优缺点及适用范围。希望讲座可以给大家在实际样品制备带来一些指引。
开尔文探针力显微镜 (KPFM) 是一种静电力显微镜 (EFM) 技术,被广泛应用于研究各种导电或半导体样品表面电特性。KPFM 提供局部表面电位分布的定量结果,或者,校准后,测量样品的功函数。KPFM 广泛用于研究和工业中,用于对各种应用(如聚合物化合物或太阳能电池等电子设备)的功函数变化进行成像。 在本次网络研讨会中,我们将展示开尔文探针力显微镜 (KPFM) 在 Park FX40全自动化原子力显微镜上的原理和应用。