2020年5月21日*星期四
北京时间东八区上午 10:00-11:00
左图）SnSe晶体表面的KPFM图像，图中颜色代表测得的表面电势数值
右图）SnSe和SnSe2天然异质结的band alignment。
原子力显微镜在材料表面形貌和性质的研究中起着重要的作用，不仅可以用于薄膜材料，也可以用于研究单晶表面。热电材料能够利用赛贝克(Seebeck)效应收集废热发电，是一种潜在的绿色能源材料。硒化锡(SnSe)单晶在923K时热电品质因子达到了创纪录的2.6，因此有非常广阔的应用前景。然而，SnSe单晶的空穴自掺杂来源没有定论。我们使用AFM研究了SnSe中的两种缺陷：SnSe2杂相和点位错，对SnSe掺杂和电子结构的成因进行了解释。本次网络讲座主要包括两个部分：(1)开尔文探针显微镜的原理和操作 (2)原子力显微镜在热电材料SnSe研究中的应用。
主讲人：
胡奇峰博士
胡奇峰，浙江大学物理系博士，导师为郑毅教授。主要研究方向为二维材料多铁器件及其电子输运，曾使用原子力显微镜研究热电材料SnSe的缺陷。参与发表SCI论文3篇，曾获得“2011协同创新中心博士生入学奖学金一等奖”