专业的 AFM 解决方案
行业引领——支持多种SPM模式和选项
如今,研究人员需要在不同的测量条件和样品环境下表征广泛的物理特性。 Park Systems能为您提供多种 SPM 模式、全面的 AFM 选项以及业界前沿的选项兼容性和可升级性,支持高级样品表征。Park NX7 支持多种 SPM 模式
电学特性
力学特性
- 力调制显微镜 (FMM)
- 纳米压痕
- 纳米刻蚀
- 高压纳米刻蚀
- 纳米操纵
- 横向力显微镜 (LFM)
- 力距(F/d)光谱
- 力容积成像
化学特性
- 具有功能化探针的化学力显微镜
- 电化学显微镜 (EC-AFM)