用于产线计量的原子力显微镜

晶圆计量

使用Park Systems的先进自动AFM革新半导体工艺。 我们的尖端工具为半导体制造计量、设备故障分析和各种工业应用提供了自动化和优化的在线解决方案。这使工程师能够满足半导体行业复杂任务的需求。体验捕捉高度准确、可重复和全面测量的自由，提高制造效率并确保顶级生产质量。卓越的半导体解决方案从这里开始。