无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描
Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点，还能够在不同扫描位置，扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交XY轴扫描。即使再平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等背景曲率。因此Park能不惧艰难挑战，为您在研究中提供高精度的纳米测量。
无耦合关系的XY和Z扫描器
Park的核心技术在于专有的扫描器架构。基于独立XY扫描器和Z扫描器设计的挠曲结构，能让您轻松获得高精度纳米级分辨率数据。
行业引领的低噪声Z探测器
Park AFM 配备了低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,因而达到了样品形貌成像精准，没有边沿过冲无需校准的高效率。Park NX系列不仅为您提供高精准的数据，更为您大大节省了时间成本。
由低噪声Z探测器测量准确的样品形貌
- 利用低噪声Z探测器信号进行形貌成像
- 有高宽带，Z探测器低噪声只有0.02 nm
- 边缘位置无前沿或后沿过冲现象
- 只需在原厂校准一次
样品: 1.2 μm标准台阶高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)
True Non-Contact™模式可延长探针寿命、保护样品和精准测量
True Non-Contact™ 模式是Park原子力显微镜系统创新的扫描模式，通过在扫描过程中防止针尖和样品损坏，从而产生高分辨率和准确的数据。
接触模式下，针尖在扫描过程中持续接触样品；轻敲模式下，针尖周期性地接触样品；而在非接触模式下针尖不会接触样品。因此，使用非接触模式具有几大关键优势。由于针尖锐度得以保持，在整个成像过程中会以高分辨率进行扫描。非接触模式下由于针尖和样品表面不会直接接触，从而避免损坏软样品。
更快速的Z轴伺服使得真正的非接触式原子力显微镜有更精准的反馈
- 减少针尖磨损 → 长时间高分辨率扫描
- 无损式探针-样品接触 → 较大地减少样品受损度
- 可满足各种条件下，对各种样品都能够进行非接触式扫描
此外，非接触模式可以感知探针与样品原子之间的作用力，甚至可以检测到探针接近样品时产生的横向力。因此，在非接触模式下使用的探针可以有效避免撞到样品表面时突然出现的高层结构。而接触模式和轻敲模式只能进行探针底端检测，很容易受到这种撞击伤害。
