パーク・システムズ #５ 『フォース分光基礎、ナノ機械特性測定 PinPointモードについて』 - 2020年12月18日
SPEAKERS
  • 後藤 千絵
    パーク・システムズ・ジャパン株式会社技術部 分析チーム
Authors
後藤 千絵

ナノテクノロジーは、原子および分子スケールでの物質の操作に基づく最新の研究分野の一つです。ナノ構造の進歩に起因するイノベーションは、研究と産業において多くの技術的な進歩をもたらし、研究の幅を広げるのにも貢献しています。

AFMは表面形状の定量測定のみならず、Force -Distanceカーブを使って探針と試料表面の機械的な相互作用力を定量的に測定することができます。

さらにフォース分光という手段を用いてマッピングすることもできます。AFMならでは、のナノ領域の機械特性マッピングと押し込み荷重が小さいことから薄膜系材料評価にもお使いいただけます。
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