优化智能AFM​

Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。
用户还可以根据提示，选择不同的探针类型，应用类型和使用信息等。

双摄像头系统
自动校准探针
和样品位置

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样品摄像头
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样品台上可以同时放置高达四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以毫不费力地定位到相关位置进行精准扫描。

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探针识别摄像头

探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键，Park FX40便可轻松助您选择所需要的探针。

智能自动化 ​ ​

FX40拥有优异的智能视觉系统，能自动检测探针是否
正确定位。软件界面通过定位加载探针的位置至纳米级别，并在必要时生成错误状态报告，同时将这些数据与
成千上万个可能发生的模拟问题进行比较，
以此不断更新升级软件。 ​

原子力显微镜中
快速精准的
真正非接触模式

对于针尖样品间距离，Park创新的非接触模式展现了其优异的控制力，距离达到了亚纳米级别。
Park FX40拥有理想的快速且精准的非接触模式。

高配安全系数

安全的探针着陆装置——全面保护样品和探针

Park采用防碰撞传感器装置和连锁软件相结合，可以更好地保护针尖和AFM扫描器。通过算法编程，Z移动台只能在针尖与样品表面碰撞的极限内升降，避免因探针与样品相碰而产生损害，极大地提高了生产力和测量精准度。

自我诊断型环境传感器

智能扫描器显示并储存传感器的测量结果。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选适宜的环境指标。

安全的探针安装系统

用户可以选择手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量精准度。

FX40技术工程师这么说:

Park FX40技术参数