通过时间分辨开尔文探针力显微镜表征脉冲激光激发在压电/光电二极管装置上引起的位移...
Andrea Cerreta1, Zeinab Eftekhari2, Rebecca Saive2, Alexander Klasen1 1Park Systems Europe, Germany 2Inorganic Materials Science, MESA+, University of Twente, Enschede, 7522NB, the Netherlands 介...
导电原子力显微镜的莫尔成像
J. Kerfoot1*, V. V. Korolkov1 1Park Systems UK Ltd, MediCity Nottingham, D6 Thane Rd, Nottingham, UK, NG90 6BH 介绍 导电原子力显微镜 (C-AFM) 是一种能够在电流中获取具有纳...
Biological recognition by force-distance spectroscopy, AFM
Research Application Technology Center Introduction Biological recognition is a fundamental process in biological systems that describes various phenomena that revolve around the characteristics of ...
NX-Mask技术说明 (使用AFM进行光罩修复的新技术)
Application Technology Center 介绍 光罩是半导体器件制造中用于晶圆纳米图案化光刻过程中的关键部件。光罩选择性地透射或反射光以在目标衬底中产生图...
使用 Park SmartAnalysis 轻松进行 AFM 数据分析
Research Application Technology Center 随着 Park 开发的 SmartScanTM 操作软件的成功推出，它为纳米级测量的生产力和效率设定了新的标准。出于对快速、稳定地获...
磁力显微镜测量中的静电伪影
介绍 在过去的几十年中，原子力显微镜（AFM）参与了无数纳米尺度的研究和开发。虽然已被广泛使用，但对AFM数据的理解有时还是很麻烦，特别是对于...
半导体和电子器件的AFM失效分析
SSRM AFM，用于半导体失效分析的理想选择 Park NX-Hivac上提供的高真空扫描扩展电阻显微镜（SSRM），可实现新一代设备的2D载体轮廓分析，并在高真空条件...
Nanomechanical Properties of Lipid Vesicles Using Atomic Force Microscopy
Gabriela Mendoza, Ph.D., Park Systems Mexico. Introduction The unique structures of liposomes – lipid vesicles (spherical structures with a bilayer membrane) of varying size and structural complex...
Park SmartLitho一种利用AFM光刻技术制作纳米图案的新方法
Research Application Technology Center, Park Systems Corp. 介绍 自原子力显微镜（AFM）[1]发明以来，它被广泛应用到了样品表面无损成像中，其电学、磁学和力学等...
利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
Ilka Hermes1, Romain Stomp2 1Park Systems Europe, Mannheim, Germany 2Zurich Instruments, Zurich, Switzerland 介绍 铁电材料由于其特有的机电特性和电学特性，在工业上得到...
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