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  • nx-hdm AFM
    Park HDM Series Simply the best AFM for Media & Substrate Manufacturing
    • Higher Throughput, Automatic Defect Review
    • Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析,从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外,Park NX-HDM拥有精准的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内较低的本底噪声和True Non-Contac技术,Park NX-HDM是目前市面上表面粗糙度测量较为精准的原子力显微镜。

Park NX-HDM

Park NX-HDM

 

 

Higher Throughput, Automatic Defect Review

对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析, 从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。

 

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement

业内对于超平面介质和基底的要求越来越高,所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外,Park NX-HDM拥有精准的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内较低的本底噪声和True Non-Contact技术,Park NX-HDM是目前市面上表面粗糙度测量较为精准的原子力显微镜。